Language :
บริษัท Tse Lup ปรับปรุงความต้องการทางด้านอุปกรณ์ในการตรวจวัดให้ทันสมัยอยู่เสมอ โดยเพิ่มชุดอุปกรณ์ตรวจวัดจำนวนมากและความสามารถในการตรวจสอบลักษณะภายนอกอย่างละเอียดด้วยสายตา นอกจากนี้ บริษัทยังกำหนดสภาพแวดล้อมในการทำงานที่สะดวกสบายและมีประสิทธิภาพเพื่อให้สามารถปฏิบัติงานได้บรรลุตามเป้าหมายและสมบูรณ์แบบ
| ความสามารถในการตรวจวัด |
| เครื่องมือวัดละเอียด CMM – เครื่องมือวัดแบบหัวสัมผัส (Brown & Sharpe, USA) |
| CMM – Touch Probe Scanner (Tigo, Italy) |
| เครื่องมือวัดละเอียด CMM – เครื่องมือวัดแบบแสง (Optical) (ยี่ห้อ Mitutoyo, ญี่ปุ่น) |
| Laser & Optical 3D Measuring System (Keyence, Japan) |
| กล้องจุลทรรศน์แบบสเตอริโอ (Stereo Microscope) |
| เครื่องวัดความยาวอย่างละเอียด (Digimatic Caliper) |
| เครื่องวัดความสูง (Digimatic Height Gauge) |
| เครื่องวัดความยาวแบบดิจิตอล (Digimatic Micrometer) |
| เครื่องวัดความกว้างของรู (Pin Gauge) |
| เครื่องวัดแรงดึง แรงกด ( Push-Pull Gauge) |
| เครื่องวัดแรงบิด (Torque Gauge) |
| (Micro) Vickers Hardness Tester (Innovatest, Netherlands) |
| Rockwell Hardness Tester |
| Dualscope Coating Thickness Tester (Helmut Fischer, Germany) |
| Roughness Tester |
