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Tse Lupは継続的に測定機器ニーズを改善し、幅広い精密測定機器群や厳密な外観検査性能を拡張しています。こうした設定により、完璧を実現・保証できるような効率的かつ快適な作業環境が生み出されています。
| 測定性能 |
| CMM – タッチ・プローブ (Brown & Sharpe, USA) |
| CMM – Touch Probe Scanner (Tigo, Italy) |
| CMM – オプティカル（ミツトヨ、日本） |
| Laser & Optical 3D Measuring System (Keyence, Japan) |
| 実体顕微鏡 |
| デジマティック・キャリバ |
| デジマティック・ハイト・ゲージ |
| デジマティック・マイクロメータ |
| ピンゲージ |
| プッシュプル・ゲージ |
| トルク・ゲージ |
| (Micro) Vickers Hardness Tester (Innovatest, Netherlands) |
| Rockwell Hardness Tester |
| Dualscope Coating Thickness Tester (Helmut Fischer, Germany) |
| Roughness Tester |
